活动简介

International Test Conference, the cornerstone of TestWeek events, is the premier conference dedicated to the electronic test of devices, boards and systems – covering the complete cycle from design verification, test, diagnosis, failure analysis and back to process improvement. At ITC, test and design professionals can confront the challenges the industry faces, and learn how these challenges are being addressed by the combined efforts of academia, design tool and equipment designers, and test engineers

征稿信息

重要日期

2019-03-11
摘要截稿日期
2019-03-08
初稿截稿日期
2019-06-07
初稿录用日期
2019-03-01
终稿截稿日期
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重要日期
  • 会议日期

    11月09日

    2019

    11月15日

    2019

  • 03月01日 2019

    终稿截稿日期

  • 03月08日 2019

    初稿截稿日期

  • 03月11日 2019

    摘要截稿日期

  • 06月07日 2019

    初稿录用通知日期

  • 11月15日 2019

    注册截止日期

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