International Test Conference, the cornerstone of TestWeek events, is the premier conference dedicated to the electronic test of devices, boards and systems – covering the complete cycle from design verification, test, diagnosis, failure analysis and back to process improvement. At ITC, test and design professionals can confront the challenges the industry faces, and learn how these challenges are being addressed by the combined efforts of academia, design tool and equipment designers, and test engineers
11月09日
2019
11月15日
2019
终稿截稿日期
初稿截稿日期
摘要截稿日期
初稿录用通知日期
注册截止日期
2020年11月01日 美国
2020 IEEE International Test Conference2018年10月30日 美国
2018 IEEE International Test Conference2017年10月31日 美国
2017年IEEE国际测试会议2016年11月15日 美国 Fort Worth,USA
2016年IEEE测试国际会议2015年10月06日 美国
2015年IEEE测试国际会议2014年10月20日 美国
2014年IEEE测试国际会议2013年09月06日 美国
2013年IEEE国际测试大会
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