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活动简介

2016年全国电子显微学学术年会将于10月12-16日在北京举行。

大会的学术交流内容包括透射电子显微镜、扫描电子显微镜、微束分析、扫描探针显微镜（包括STM、AFM等）等在物理学、材料科学、纳米科技、生命科学、化学化工、环境科学、地学等领域中的基础和应用研究成果；显微学相关仪器的理论、技术和实验方法的发展与改进；电镜及其它显微学仪器的使用、改进与维修经验的交流等。会议还将邀请相关仪器设备的厂商做电镜和其他仪器的最新发展介绍及产品展示。第七届中国电子显微摄影大赛将同期举办。

征稿信息

重要日期

2016-06-15
摘要截稿日期
2016-06-15
初稿截稿日期

征稿范围

（1）透射电子显微镜、扫描电子显微镜、微束分析仪器、扫描探针显微镜（含扫描隧道显微镜，原子力显微镜等）等在物理学、材料科学、生命科学、医学、农林、化学化工、地学、环境科学等研究领域和生产中的应用。

（2）电子显微镜、微束分析仪器、扫描探针显微镜（含扫描隧道显微镜，原子力显微镜等）、激光共聚焦显微镜等仪器设备相关的理论研究，新产品研制，性能改进，软件开发等。

（3）显微学图像处理的理论研究，仪器设备及软件研发。

（4）显微学样品制备的仪器，制样方法和技术的研发与改进。

（5）显微学仪器的管理、使用及维修方面的经验。

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重要日期

  • 10月12日

    2016

    会议日期

  • 06月15日 2016

    摘要截稿日期

  • 06月15日 2016

    初稿截稿日期

  • 10月12日 2016

    注册截止日期

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