活动相册
重要日期
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会议日期
10月31日
2017
至11月02日
2017
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03月20日 2017
摘要截稿日期
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03月20日 2017
初稿截稿日期
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06月10日 2017
初稿录用通知日期
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07月05日 2017
终稿截稿日期
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11月02日 2017
注册截止日期
主办单位
IEEE Dallas Section
Philadelphia Section
Philadelphia Section
联系方式
历届会议
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2020年11月01日 美国
2020 IEEE International Test Conference -
2019年11月09日 美国
2019 IEEE International Test Conference -
2018年10月30日 美国
2018 IEEE International Test Conference -
2016年11月15日 美国 Fort Worth,USA
2016年IEEE测试国际会议 -
2015年10月06日 美国
2015年IEEE测试国际会议 -
2014年10月20日 美国
2014年IEEE测试国际会议 -
2013年09月06日 美国
2013年IEEE国际测试大会
